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2022年1月11日 UPDATE
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三啓・日本電子コラボセミナー 電子部品の広域観察と評価 ～ 前処理研磨からSEM評価まで ～
今回は電子部品の広範囲観察と評価にテーマを絞り、株式会社三啓の研磨装置と日本電子株式会社のSEMを利用し、鮮明で効果的な観察をするための前処理からSEMによる撮影、さらにモンタージュ写真の合成、元素分析による評価までの一連のソリューションをご紹介いたします。
皆さまのご参加をお待ちしております。
○ 開催日
- 2022年2月8日(火) 16:00～17:00 各講習：30分(25分講演、質疑応答5分)
申し込み → https://lp.jeol.co.jp/registration_220208
- 2022年3月3日(木) 16:00～17:00 各講習：30分(25分講演、質疑応答5分）
申し込み → https://lp.jeol.co.jp/registration_220303
※ 講演内容は、両日とも同じです。
○ 参加費：無料
※ 本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
セミナーの詳細・申込につきましては下記よりご覧ください
