PRODUCT製品情報

ライカマイクロシステムズ

イオンミリング装置 EM TIC 3X

特徴

アルゴンイオンビームよる無応力加工で断面作成、SEM用の断面作成からEBSD結晶方位解析用の試料作製まで対応
ステージにスタンダードステージ、マルチサンプルステージ、クライオステージ、ロータリーステージを用意しており
目的に応じて交換がワンタッチで行えます。

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