ライカマイクロシステムズ
ターゲット断面試料作製装置 EM TXP
特徴
ライカ EM TXPは、SEM、光学顕微鏡およびTEM観察用試料に向け、切断・研磨専用に開発されたユニークなターゲット断面作製装置です。試料の特定個所を狙った正確なミリング、切断、研削、研磨作業は、ターゲットを見失いやすくきわめて時間を要する難しい作業でした。ライカ EM TXPを使えば、このような微小領域のターゲットサンプリングが短時間で簡単に行えます。
主な仕様
試料は、ピポット・アームの調節により、治具に対して-30°～60°の角度で処理および観察ができます。60°の角度では、試料断面を正面から観察できます。
また、-30°の角度に調節すると、観察光路に対して試料を90°に配置でき、試料トップを接眼レンズ内のテンプレートにより簡易計測することができます
